Gros plan de l'examen d'un échantill ... 
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Gros plan de l'examen d'un échantillon d'écran OLED avec station de sonde au microscope en laboratoire.Un semi-conducteur sur une plaquette de silicium. Concentration sélective
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Print XXL 15 MP |
3668x2445 Pixel 31,06x20,7 cm (300 dpi) |
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Web S 0,5 MP |
500x333 Pixel 16,93x11,28 cm (75 dpi) |
3,90 € | 4,17 € | |
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Print M 2 MP |
1000x667 Pixel 8,47x5,65 cm (300 dpi) |
6,90 € | 7,38 € | |
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Print XL 8 MP |
2000x1333 Pixel 16,93x11,29 cm (300 dpi) |
12,90 € | 13,80 € | |
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Print XXL 15 MP |
3668x2445 Pixel 31,06x20,7 cm (300 dpi) |
15,90 € | 17,01 € | |
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| Merchandisinglizenz: JPG | ||||
| Format | Bildgröße | Netto | Brutto | Preis |
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Print XXL 15 MP |
3668x2445 Pixel 31,06x20,7 cm (300 dpi) |
79,90 € | 85,49 € | |
| Media-ID: | B:336471500 |
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| Beschreibung: | Vérification de la couleur verte de l'écran OLED sur une plaquette de silicium avec station de sonde. Fabrication de cristaux semi-conducteurs.Mise au point sélective . |
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